Thumbnail Image.png
المعرف
b1162405x

Thickness measurement of evaporated thin metalic film by multiple beam interference frings at reflection [thesis]

مؤلف
Kadah, Fika Abdul-Ghany Saeed
الناشر
1982 1402
الكلية
التربية
الوصف
21 Paper.
14
Master Thesis
المجموعة
الرسائل العلمية المحدثة
قالب العنصر
الرسائل العلمية
تصنيف ديوي
11885
الصيغة
ماجستير
zcustom_lst_2
jmaa_m_lqr
zcustom_taxonomy_1
الفيزياء
zcustom_txtarea_1
Mokhtar, S. Supervision;Umm Al-qura University